POMONA ELECTRONICS 5250 Prüfspitze 1 St.

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Der 5250 ist ein SOIC 8-Pin-Testclip. Entwickelt für In-Circuit-Tests auf Small Outline Integrated Circuits (SOIC). Der SOIC-Testclip stellt eine positive Verbindung zu allen Chipleitungen sicher und ermöglicht Freihandtests.

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Der 5250 ist ein SOIC 8-Pin-Testclip. Entwickelt für In-Circuit-Tests auf Small Outline Integrated Circuits (SOIC). Der SOIC-Testclip stellt eine positive Verbindung zu allen Chipleitungen sicher und ermöglicht Freihandtests.

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Allgemeine Beschreibung Der Pomona Electronics 5250 Prüfspitze ist ein SOIC 8-Pin-Testclip, der speziell für In-Circuit-Tests auf Small Outline Integrated Circuits (SOIC) entwickelt wurde. Dieser Testclip gewährleistet eine positive Verbindung zu allen Chipleitungen und ermöglicht Freihandtests. Lieferumfang 1 SOIC 8-Pin Test Clip

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Pomona Electronics 5250 Prüfspitze 1 St.